切片測(cè)試在電子組裝（PCBA）質(zhì)量提升中的關(guān)鍵作用

2025年12月01日 09:26:18人氣：170來源：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)（深圳）有限公司

　　一、 PCBA焊接質(zhì)量的優(yōu)質(zhì)裁判

　　在SMT加工中，許多焊接缺陷如虛焊、裂紋、內(nèi)部空洞以及金屬間化合物(IMC) 的異常生長(zhǎng)，都隱藏在焊點(diǎn)內(nèi)部，肉眼和光學(xué)顯微鏡無法察覺。此時(shí)，切片測(cè)試便扮演了優(yōu)質(zhì)裁判的角色。

　　通過對(duì)疑似不良的焊點(diǎn)進(jìn)行切片制樣，我們可以在顯微鏡下：

　　觀測(cè)焊料與焊盤的潤(rùn)濕情況，判斷是否存在虛焊或冷焊。

　　測(cè)量焊點(diǎn)中空洞的比例和位置，評(píng)估其對(duì)可靠性的影響。

　　觀察IMC層的厚度與形貌。過厚或不平整的IMC層是焊點(diǎn)脆性斷裂的主要誘因之一。

　　發(fā)現(xiàn)因應(yīng)力或熱疲勞導(dǎo)致的微裂紋。

　　二、切片測(cè)試與X-Ray檢測(cè)：互補(bǔ)的黃金搭檔

　　在PCBA檢測(cè)中，X-Ray和切片測(cè)試常被同時(shí)提及，但二者定位不同。

　　X-Ray檢測(cè)：屬于非破壞性分析。它利用X射線穿透樣品，通過不同物質(zhì)對(duì)射線的吸收差異成像，擅長(zhǎng)快速發(fā)現(xiàn)焊點(diǎn)內(nèi)部的空洞、橋接以及元器件的內(nèi)部缺陷。它適用于生產(chǎn)過程中的全檢或抽檢，效率高。

　　切片測(cè)試：屬于破壞性分析。它提供的是超高分辨率的二維截面信息，能夠揭示焊點(diǎn)的微觀組織結(jié)構(gòu)、界面反應(yīng)和缺陷性質(zhì)，是進(jìn)行根源性失效分析的手段。

　　簡(jiǎn)言之，X-Ray用于快速篩查，而切片測(cè)試用于精確診斷。二者相輔相成，共同構(gòu)筑了PCBA質(zhì)量的無形防線。

　　三、案例：切片技術(shù)鎖定BGA失效因素

　　某客戶反饋，其產(chǎn)品上的BGA器件在測(cè)試中出現(xiàn)功能異常。X-Ray初步檢查未發(fā)現(xiàn)明顯空洞或連錫。隨后，我們對(duì)失效BGA焊點(diǎn)進(jìn)行切片分析。

　　在掃描電鏡(SEM)下，發(fā)現(xiàn)失效焊點(diǎn)的IMC層與鎳層之間存在微裂紋，且IMC層形態(tài)異常，未能形成良好的結(jié)合。通過與良品樣品的對(duì)比切片，最終確認(rèn)為PCB焊盤表面處理工藝不一致所致。這一結(jié)論為客戶改進(jìn)工藝提供了明確方向。

　　結(jié)語：

　　在追求高可靠性的電子制造領(lǐng)域，切片測(cè)試是深入理解焊點(diǎn)質(zhì)量、解決復(fù)雜失效問題的核心技術(shù)。它能夠?qū)㈦[藏的缺陷可視化，將模糊的故障原因清晰化。

　　優(yōu)爾鴻信檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室具備優(yōu)質(zhì)的PCBA切片分析能力，遵循IPC-TM-650等標(biāo)準(zhǔn)。無論是新工藝驗(yàn)證還是批量性問題排查，我們都能為您提供準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)支持和解決方案。

關(guān)鍵詞：光學(xué)顯微鏡顯微鏡

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